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Test Pattern Generation for Sequential MOS Circuits by Symbolic Fault Simulation

机译：通过符号故障仿真生成顺序MOS电路的测试模式

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作者
Cho, Kyeongsoon; Bryant, Randal E.;
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年度 1989
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原文格式 PDF
正文语种 eng
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2. Fuzzy delay model based fault simulator for crosstalk delay fault test generation in asynchronous sequential circuits [J] . Jayanthy S., Bhuvaneswari M. C. Sadhana: Academy Proceedings in Engineering Science . 2015,第1期

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4. Test Pattern Generation for Sequential MOS Circuits by Symbolic Fault Simulation [C] . Kyeongsoon Cho, Bryant R.E. World Class Manufacture for SMEs: Some ot the Issues . 1996

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5. Parallel algorithms for sequential circuit fault simulation and test generation. [D] . Krishnaswamy, Dilip. 1997

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6. Test Generation Algorithm for Fault Detection of Analog Circuits Based on Extreme Learning Machine [O] . Jingyu Zhou, Shulin Tian, Chenglin Yang, 2014

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8. Dynamic Fault Collapsing and Diagnostic Test Pattern Generation for Sequential Circuits [R] . Boppana, V. , Fuchs, W. K. 1998

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